供应FPQ封装集成电路老化测试夹具(IC

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产品规格：FP-16J

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行 业： 集成电路 IC集成电路 

发布时间：2021-03-29

FPQ封装集成电路老化测试夹具(IC测试治具)
该系列夹具适用于FPQ封装的片状集成电路及阻容器件的老化、测试、筛选及可靠性试验作连
接之用。产品广泛运用于航空航天、**、科研院所、电子、通讯.
产品型号及规格； 
FP-16J  
主要技术指标； 
间距；1.27mm            环境温度；-55℃—+155℃      接触电阻；≤0.01欧      
工作电压；DC500V      弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金）